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Planning AFM

 

 

 

 

 

 

 

 

Microscope à Force Atomique - mode contact & tapping D3100 / Digital Instruments

Financé par l'Institut Lavoisier Franklin, cet appareil livré en septembre 2003 est utilisé en service collectif par 3 laboratoires. Chaque laboratoire possède son correspondant sous la direction de Niels Keller (CR), responsable scientifique et technique :

IREM - Pierre Tran-Van (MCF)
LPSC - Jean François Rommeluere (IE)
LMOV - Bruno BERINI (IE)

Le microscope à Force Atomique est basée sur la detection des forces d'interactions entre une pointe (en général en nitrure de silicium) et la surface d'un échantillon conducteur ou isolant. Le déplacement de la pointe au dessus de l'échantillon (latéral et vertical) est assuré par un tube piezo-électrique. En mode contact, une boucle d'asservissement maintient constant la déflection du levier pendant le balayage. En mode tapping (contact intermittent), le levier oscille à sa fréquence de résonnance et la boucle d'asservissement maintient l'amplitude constante.

Image AFM D3100 en mode tapping

 

 

 

 

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